Оригинальная конструкция обеспечивает уникальное сочетание параметров:
Пример источника магнитного поля регулируемой напряженности для оптических измерений.
| Шахта для установки образцов: |
Ø 42 мм
|
| Диапазон регулировки поля: |
от -0.7 до 0.7 Тл
|
| Однородность поля в рабочей области: |
~ 1 %
|
| Неизменная геометрия рабочего пространства в процессе регулировки поля: |
Да
|
| Возможность оптических наблюдений в направлениях вдоль и поперек магнитного поля: |
Да
|
Возможна поставка источника со встроенной системой измерения поля, связанной с ПК. Управление регулировкой поля осуществляется с ПК, либо с помощью встроенного контроллера.
Возможно изготовление источников поля данного типа по техническому заданию (размеры рабочей области, величина поля) заказчика.
С дополнительной информацией о регулируемых магнитных системах для оптических измерений можно ознакомиться в статье «Highly intensive magnetic systems», подготовленной AMT&C для журнала «Magnetics Technology International Journal».
